全自動測厚儀 型號：MX1100
用于測量薄膜和紙張厚度的全自動測厚儀 符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等標(biāo)準(zhǔn) 操作簡單
3種操作模式：可作為獨立手動系統(tǒng)操作；也可通過打印機(jī)，打印出測試結(jié)果；或者與軟件連接，自動生成圖表和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。 多點測試和分析
MX1100通過測量頭做多點測試，也可以自動循環(huán)升降做單點測試。，其他型號可進(jìn)行多點或單點測試來滿足抽樣調(diào)查和概要分析。 實惠的價格 MX系列產(chǎn)品物美價廉，性價比高 行業(yè)的升級版軟件
選配的軟件，內(nèi)置打印機(jī)，電腦系統(tǒng)都是可升級的。打印機(jī)適用于在數(shù)顯或軟件模式下操作。自帶Windows™ 95/98/NT/2000/XP系統(tǒng)的軟件能夠自動生成統(tǒng)計報告和圖表分析，包括極大值，極小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，計數(shù)值。 | 技術(shù)規(guī)格 | | 操作模式: | 單機(jī)試驗 / 聯(lián)機(jī)試驗 | | 樣品材料: | 所有薄片狀材料 | | 測量范圍（選擇其一）: | 0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil
0 -1270 um, 0 - 2540 um
0 - 5080 um, 0 - 7620 um
訂做其他測量范圍，請在訂購時說明 | | 分辨率: | 0.01 mil （0.1 um） （0.0001 mm） | | 精度: | ±0.02 mils （±0.50 um） （±.0005 mm） / （±20 microinch） | | 平行距離: | ±40 microinches或以上 （±1.0 micron 或以上） | | 測量頭尺寸: | 0.188 inch 直徑 （4.3 mm直徑） （薄膜） / 0.628 inch直徑 （15.9 mm 直徑） （紙張r） | | 測量頭壓力: | 4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2） （紙張） | | 測量頻率: | 可達(dá)到 60次/分鐘 | | zui低速率: | 0.040 inch/sec. （1mm / sec） （紙張） | | 響應(yīng)時間: | 3 ± 1 seconds | | 驅(qū)動: | N/A | | 數(shù)據(jù)顯示: | 厚度數(shù)據(jù) | | 數(shù)據(jù)輸出: | RS-232接口可連打印機(jī)或電腦 | |
點擊放大